Descripción
El microscopio de medición Meiji MC-40 es un sistema de medición de alta calidad compuesto por componentes de microscopio metalúrgico, etapas de precisión X-Y y soportes resistentes y pesados. El sistema MC-40 se puede configurar para usar con fotomicrografía de 35 mm, sistemas de cámara de video CCD y cámara de fotos digitales. Los operadores pueden realizar inspecciones visuales y mediciones de artículos o componentes pequeños sin una configuración complicada del sistema. El microscopio tiene una cabeza binocular con imagen erguida y despolarizador, y oculares de enfoque HWF10X-FF con retícula de línea cruzada y tornillo de fijación. El sistema también incluye un iluminador vertical Koehler de corrección infinita con polarizador deslizante y rotativo. El bloque de enfoque es coaxial de grosor y fino con nosepiece de cuatro rodamientos de bala. El soporte es pesado con pilar y bracket de montaje, con un diámetro del pilar de 38mm, altura de 432mm y base de 300 x 300 x 25mm.
| Cabeza de visión |
Cabeza binocular con imagen erguida y despolarizador |
| Oculares |
Oculares de enfoque HWF10X-FF con retícula de línea cruzada y tornillo de fijación |
| Objectivos |
Plan Epi M5X, N.A. 0.10, corrección infinita, W.D. 20mm |
| Iluminador |
Iluminador vertical Koehler de corrección infinita con polarizador deslizante y rotativo |
| Bloque de enfoque |
Bloque de enfoque coaxial de grosor y fino con nosepiece de cuatro rodamientos de bala |
| Soporte |
Soporte pesado con pilar y bracket de montaje. Diámetro del pilar: 38mm, Altura: 432mm, Base: 300 x 300 x 25mm |
| Etapa |
Etapa de medición de luz reflejada: 150mm x 150mm con movimiento X-Y de 50mm x 50mm con brackets de montaje para cabezas de micrómetro digitales |
| Peso |
0.907 kg |
| Unidad de peso |
kg |
